Dage diakuisisi oleh Nordson Corporation pada 2006.
Nordson DAGE memiliki portofolio yang kuat dari produk yang memenangkan penghargaan untuk pengujian mekanik destruktif dan non-destruktif dan pemeriksaan komponen elektronik. Ini memiliki, sepenuhnya dimiliki jaringan distribusi dan dukungan yang sangat baik dari tujuh kantor meliputi Eropa, Jepang, China, Singapura, dan Amerika Serikat, dan memiliki kantor perwakilan di wilayah lain.
Dengan yang mandiri R & D fasilitas, Nordson DAGE telah mengembangkan produk terkemuka dunia untuk menguji kawat obligasi pada paket semikonduktor seperti BGA, Chip Skala Paket (CSP) dan komponen elektronik lainnya. Baru-baru ini Nordson DAGE telah banyak terlibat dalam pengujian teknologi terbaru 300 mm wafer bertemu geser.
Nordson DAGE telah mengembangkan suite yang sangat baik dari memenangkan penghargaan X-ray inspeksi peralatan ditargetkan pada kedua Semiconductor dan PCBA pasar.
Pengendalian teknologi inti dipatenkan X-ray pembuatan tabung memastikan bahwa resolusi tinggi X-ray akan mendeteksi, mengidentifikasi dan mengukur bahkan terkecil fitur. Presisi tinggi, state-of-the-art peralatan inspeksi Nordson DAGE ketika bergabung dengan penawaran perangkat lunak mereka canggih, memastikan bahwa peralatan yang mudah digunakan.
Pengantar
Selama 10 tahun terakhir, 2D teknologi inspeksi X-ray telah maju secara signifikan dalam kemampuan. Teknologi ini telah menjadi alat penting dalam rezim uji industri elektronik. Hal ini karena menyediakan cara untuk menilai sendi solder tersembunyi dan memungkinkan untuk melihat interior paket mikroelektronika dengan cara non-destruktif. Teknik lintas-sectioning adalah teknik lain yang banyak digunakan untuk keperluan pembangunan dan analisis kegagalan. Namun, teknik ini memiliki kelemahan utama dan melibatkan memotong mahal Printed Circuit Board (PCB).
2D X-ray Inspection Systems
Hadir generasi 2D X-ray Inspection Systems meliputi sumber X-ray yang kuat dan tajam dengan fitur pengenalan sub mikron ke 0.1μm atau 100 nm. Selain menjaga resolusi submikron sistem ini memberikan tinggi X-ray listrik / fluks hingga 10W pada target X-ray. Selain itu, perkembangan yang signifikan telah dibuat dalam detektor X-ray, dengan intensifier gambar maju dan jenis panel datar. Kemajuan ini berkontribusi pada resolusi tinggi dan gambar bandwith X-ray, dengan peningkatan otomatisasi dan kecepatan kemampuan. Hasil akhirnya adalah kemampuan deteksi cacat lebih ditingkatkan. menampilkan gambar 2D X-ray resolusi tinggi, menunjukkan kawat Au ditiup diambil pada instrumen X-ray canggih.
Namun, meskipun ini prestasi kinerja yang luar biasa, 2D X-ray belum menjadi standar dalam elektronik desain, pengembangan dan produksi. Hal ini karena gambar 2D X-ray menjadi sulit bagi majelis berlapis multi-dan perangkat, seperti X-ray menembus seluruh objek. Oleh karena itu, perangkat multi-layered menyulitkan operator ketika mencoba untuk mempelajari gambar. Sebuah 2D image X-ray dari perangkat mati, di mana sangat sulit untuk mempelajari struktur kabel obligasi multi-level menggunakan gambar 2D X-ray saja.
Untuk itu, tomografi komputer 3D X-ray (CT) sedang digunakan dalam industri mikroelektronika untuk menangani proyek-proyek seperti ini. Hal ini telah difasilitasi oleh perkembangan yang luar biasa dalam teknologi X-ray 2D bersama-sama dengan perkembangan terus menerus dalam teknologi komputer.
Metode 3D CT dapat membuat penampang virtual atau e-bagian secara non-destruktif, setiap bidang perangkat. Beberapa CT e-bagian dari perangkat ditumpuk serupa ditunjukkan pada Model 3D CT dibuat di sejumlah tahapan. Yang pertama adalah untuk mendapatkan serangkaian resolusi tinggi gambar 2D X-ray di berbagai sudut di sekitar sampel dan melacak posisi geometris pada tingkat presisi tertinggi.
Pertama, sampel ditangguhkan antara detektor dan sumber X-ray dan gambar 2D diperoleh di berbagai sudut dengan memutar sampel. Kemudian, set 2D X-ray gambar diproses melalui algoritma matematika selama langkah yang disebut CT rekonstruksi. Hasil akhirnya adalah model CT, yang merupakan sampel dalam kepadatan susunan tiga-dimensi. Array ini dapat hampir potong dadu dan iris dalam penampil komputer yang didedikasikan untuk menyediakan analisis e-bagian yang lebih disukai. Langkah rekonstruksi ini dicapai dalam hitungan menit.
Besar Dewan CT
Untuk mengatasi keterbatasan di atas dari CT, teknik yang disebut Large Dewan CT, Partial CT (PCT), atau sudut terbatas CT telah dikembangkan. menunjukkan prinsip dasar dari teknik ini, yang melibatkan menjaga sampel datar dan dekat dengan sumber X-ray, sehingga sistem inspeksi dapat membuat resolusi tinggi gambar 2D X-ray. Detektor digeser sekitar objek pada sudut miring.
Besar Dewan CT Evaluasi Antarmuka BGA membatalkan dan Perbandingan dengan Hasil 2D
Perhitungan persentase berkemih antarmuka adalah proses penjaminan mutu yang diikuti dalam rezim pengujian PCB dan mikroelektronika. menggambarkan gambar X-ray 2D yang menunjukkan berkemih dalam bagian sudut perangkat BGA. Kekosongan besar terlihat pada sendi (panah orange) tengah tentu masalah karena itu adalah cara di atas kriteria 25% yang ditetapkan oleh IPC-A-610. Void kecil (panah merah) juga bisa menjadi masalah bagi proses reflow, meskipun fakta bahwa mereka mungkin lulus IPC-A-610 kriteria. Kekosongan ini terutama terkonsentrasi pada antarmuka bersama, membuat sendi rentan terhadap antarmuka kegagalan di lapangan.
Besar Dewan CT memungkinkan operator untuk memilih lokasi slice (e-section) di mana perhitungan berkemih dilakukan. Dengan cara ini, data yang tepat untuk persentase berkemih antarmuka dapat diperoleh yang dinyatakan tidak tersedia dengan hanya menggunakan 2D analisis X-ray.
Perbandingan kemudian dibuat antara persentase jumlah berkemih sesuai data imaging 2D dibandingkan persentase berkemih antarmuka yang diukur dengan menggunakan Large Data Badan CT. Tujuannya adalah untuk memastikan tingkat korelasi dan mencari tahu apakah perhitungan total persentase berkemih per IPC-A-610 memberikan representasi yang cukup dari berkemih antarmuka.
