n=2 d sin; n=1,2,.. (Mursal,2018)
Kegunaan dari  X-ray Diffraction (XRD)
X-ray Diffraction (XRD) ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel dari nanokristal. XRD sangat berguna untuk mempelajari struktur kristal, komposisi kimia, dan sifat sifat fisika dari nanomaterial. Selain itu XRD juga digunakan untuk menganalisis struktur kristal guna mengetahui parameter kisi, jenis struktur, susunan atom yang berbeda pada kristal hasil pengelasan.
Sejarah Penemuan X-ray Fluoresensi (XRF)
Pada tahun 1913, fisikawan Henry Moseley mengeksplorasi lebih lanjut potensi sinar-X dengan menggunakannya untuk membantu penomoran unsur .Ia menunjukkan bahwa ketika suatu unsur kimia memancarkan sinar-X karakteristik tertentu, frekuensi sinar-X ini sebanding dengan kuadrat angka yang mendekati nomor atom unsur tersebut. Ini menjadi Hukum Moseley. Hubungan antara frekuensi dan nomor atom adalah dasar spektrometri sinar-X modern. Potensi teknik ini menghasilkan perkembangan ilmiah lebih lanjut dalam sinar-X pada beberapa dekade pertama abad ke-20. Setengah dari Hadiah Nobel dalam bidang Fisika antara tahun 1914 dan 1924 diberikan kepada karya yang terkait dengan sinar-X. Pada tahun 1920-an, para ilmuwan bereksperimen dengan sinar-X primer sebagai pengganti elektron untuk mengeksitasi sampel, dan pada tahun 1928, memelopori XRF sebagai sarana untuk melakukan analisis kuantitatif terhadap material.Akan tetapi, baru pada tahun 1940-an teknologi detektor berkembang hingga tingkat yang mengubah XRF menjadi teknik yang lebih praktis untuk analisis unsur. Pada tahun 1950-an, terdapat spektrometer sinar-X pertama yang diproduksi secara komersial yang menggunakan kristal untuk memisahkan energi sinar-X sebagai panjang gelombangnya dengan detektor sinar-X sederhana.
Pengertian  X-ray Fluoresensi (XRF)
XRF merupakan salah satu metode analisis yang tidak merusak sampel, dan dapat digunakan untuk analisis unsur dalam bahan secara kualitas dan kuantitas. Hasil analisis kualitatif ditunjukkan oleh puncak spektrum yang mewakili jenis unsur sesuai dengan energi sinar-X karakteristiknya, sedangkan analisis kuantitatif diperoleh dengan cara membandingkan intensitas sampel dengan standar (Sari,2016).
Komponen Dasar  X-ray Fluoresensi (XRF)
Alat X-ray Fluoresensi (XRF) terdiri dari dua bagian utama yakni sumber utama sinar-X dan peralatan untuk mendeteksi sinar-X yang dipancarkan dari sampel. Selain itu ada bagian bagian lain yang terdapat pada alat XRF diantaranya adalah Tabung sinar X, Penyaring sinar, Material atau sampel yang mau diuji, Kolimator, Kristal penganalisis, Penghitung sintilasi, dan pencacah atau penghitung.
Prinsip Kerja  X-ray Fluoresensi (XRF)
Prinsip kerja dari X-Ray fluorescence (XRF) adalah dengan cara menembakan radiasi foton elektromagnetik ke sampel material yang diteliti, lalu radiasi elektromagnetik yang ditembakkan akan berinteraksi dengan elektron yang berada di kulit K suatu unsur atau atom, kemudian elektron yang berada di kulit K akan memiliki energy kinetik yang cukup untuk melepaskan diri dari ikatan inti sehingga electron itu akan terpental keluar. Dari elektron yang keluar tersebut akan dilakukan analisis secara kualitatif dan kuantitatif dengan XRF (Syahfiq,2021) Analisa XRF merupakan salah satu contoh analisa yang didasarkan pada perilaku atom yang terkena radiasi. Interaksi atom dengan cahaya dapat menyebabkan berbagai fenomena yang dipengaruhi oleh kuatnya intensitas cahaya yang berinteraksi dengan atom tersebut. Ketika material berinteraksi dengan cahaya yang memiliki energi tinggi (sebagai contoh: sinar-X), maka dapat menyebabkan terpentalnya elektron yang berada pada tingkat energi paling rendah pada suatu atom. Akibatnya atom berada pada keadaan yang tidak stabil sehingga elektron yang berada pada tingkat (kulit valensi) yang lebih tinggi akan mengisi posisi kosong yang ditinggalkan oleh elektron yang terpental tadi. Proses pengisian posisi elektron pada kulit valensi yang lebih rendah dinamakan deeksitasi. Proses deeksitasi ini akan disertai dengan pemancaran cahaya dengan energi yang lebih kecil daripada energi yang menyebabkan tereksitasinya elektron. Energi yang dipancarkan ini dinamakan radiasi fluoresensi.Radiasi fluoresensi ini memiliki energi yang khas tergantung dari elektron yang tereksitasi dan terdeeksitasi pada atom penyusun sebuah material. Kekhasan karakteristik dari radiasi fluoresensi pada setiap unsur ini memungkinkan dapat dilakukannya analisa kualitatif untuk mengidentifikasi unsur-unsur yang berbeda. Sementara itu, analisa kuantitatif untuk menentukan konsentrasi dari unsur yang dianalisis dapat ditentukan berdasarkan intensitas dari radiasi fluoresensi yang dipancarkan (Setiabudi,2012).
