Analisa Polimer dengan FT-IR dan AFM (Atomic Force Microscope)

Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FT-IR) adalah alat yang digunakan untuk menganalisis gugus fungsi polimer dan saat proses analisis minim sekali alat ini untuk dapat merusak struktur asli sampel yang di analisis yang berarti cenderung sempurna. Cara kerja alat ini ialah dengan cara menembakkan sinar infra Red langsung menuju sampel dan pas dibawah sampel terdapat cermin yang dapat memantulkan tembakan infra red ke 2 arah dan pantulan tadi kembali lagi terhadap cermin untuk selanjutnya mengarah secara bersama sama menuju detector computer dan dapat dilihat hasilnya pada layar komputer.

en.wikipedia.org

Atomic Force Microscope (AFM) adalah alat yang digunakan untuk mengetahui bentuk permukaan dari sample menggunakan sinar laser dan silicon siper tajam yang berukuran nanometer sehingga jika terkena laser akan bergerak. Cara kerja alat ini yaitu dengan menembakkan laser kepada lekungan silicon untuk selanjutnya pucuk tajam silicon akan secara halus mengidentifikasi bentuk permukaan sampel melalui pantulan laser menuju detector yang kemudian hasil pemindaian dapat dilihat pada layar komputer.

Perbedaan dari kedua alat ini ialah FTIR tak perlu menyentuh sampel untuk mendapatkan hasil sehingga menjamin keutuhan sampel, sedangkan AFM menggunakan jarum yang dapat merusak sampel yang dianalisis.