Uji SEM atau Uji Scanning Electron Microscope (SEM). Scanning Electron Microscope merupakan type mikroskope elektron yg bisa menghasilkan photo specimen dgn memindai surface atau muka benda uji menggunakan sinar elektron yg memfokuskan pembesaran dengan skala tertentu.
Elektron yang ditembakkan berinteraksi dg atom didalam benda uji, kemudian menghasilkan aneka sinyal yang menginformasikan topografi permukaan serta komposisi benda yang diujikan.
EDX atau Energy Dispersive X Ray dipakai untuk analisisa elemental kimia bahan yang diujikan. Kemampuan karakterisasi berdasarkan prinsip dasar bahwa setiap elemen mempunyai struktur atom yg unik, yg memungkinkan serangkaian puncak unik pada spektrum emisi elektromagnetiknya, dimana hal ini merupakan prinsip utama dari spektroskopi.
Dari sini kita bisa mendapatkan gambar penampang melintang atau disebut dengan Cross-Sectional images, serta gambar penampang permukaan atau dikenal dengan (surface images untuk bahan-bahan padat misalnya tepung/powder, katalis, plastic, komposit, plastic, ataupun logam.
